L100/広範囲　平面

XTIAの光コム３Ｄセンサはノーベル賞技術「光コム」を世界で初めて産業応用し実現した製品です。同軸光学系での計測、長いワーキングディスタンス、500kHzでの高速なデータ取得、1μm の高さ分解能により自動検査に理想的な機能になります。

高速で簡単に３Ｄスキャンができる卓上タイプでのご提供です。スタンドアロンは光コムセンサを門型ステージに搭載してミクロンオーダーでの部品の３次元データの取得を可能とします。数秒で凹凸の大きな複雑な形状の３Ｄプロファイルを取得し、寸法検査・外観検査を同時に実施することができます。

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OptoComb 360 は、XTIA 3D スキャナーと回転ステージを組み合わせて対象物を 360° スキャンする独自の検査システムです。このシステムにより、XTIA は新しい外観検査および寸法検査ソリューションを追加しました、回転対称性を持つスプールやその他の構造の外面を高精度で測定できます。

XTIA 3D スキャナーと 45° ミラーと組み合わせ、高精度測定と独自の同軸構成を活用し 、穴の内壁や複雑な円筒構造を数秒で検査できます。

XTIAのパートナー企業であるJUKI社とのコラボレーションで実現しました。 12メガピクセルの光学カメラと高精細S40タイプの光コムセンサを搭載したハイブリッド検査ソリューション。カメラによる高速な外観検査と検出した欠陥の光コムでの高精度な３Ｄ欠陥情報の取得で中・大型部品の自動検査において短いタクトと欠陥の高精度な解析を両立させる提案が可能となります。

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